試験対象 | [しけんたいしょう, shikentaishou] (n) { comp } implementation under test; IUT [Add to Longdo] |
試験対象システム | [しけんたいしょうシステム, shikentaishou shisutemu] (n) { comp } system under test; SUT [Add to Longdo] |
試験対象 | [しけんたいしょう, shikentaishou] IUT [Add to Longdo] |
試験対象システム | [しけんたいしょうシステム, shikentaishou shisutemu] SUT [Add to Longdo] |